半導体再生検査装置・X線検査
半導体再生後の検査
CloudTesting Serviceがオンデマンドで提供しているサービスを利用してお客様の問題を解決いたします。当社では、実装前に小型テスト端末CX1000を活用して電気特性チェックを実施して、再実装後の不良を限りなく、低減しております。
![電気特性チェック用小型テスト端末図](https://www.tomo-ele.co.jp/ja/wp-content/uploads/2021/05/kensa01_660_270.png)
![測定基板図](https://www.tomo-ele.co.jp/ja/wp-content/uploads/2021/05/kensa02.png)
- メモリデバイスの動作不良でのお困りを解決
- メモリデバイスの取り外し、電気的特性チェック <オープン・ショートチェック(断線、短絡確認)>
- メモリデバイスの機能チェック、動作マージンチェック
- 測定基板のカスタム設計もいたします!
- 再実装についてもお気軽にお問合せ下さい!!
概要
基板に実装されたデバイスを取り外し、電気的特性をチェック
簡易チェック | ・断線・短絡確認 ・DCテストユニットを利用して電圧を測定 |
動作チェック | ・メモリの機能確認 ・パターン発生器を利用してメモリの全セルにデータを書き込み&読出しを実施 |
SPECチェック | ・メモリデバイスの全SPEC確認 ・DPS、DCユニット、パターン発生器を利用して消費電流測定、出力電圧測定 |
マージンチェック | ・デバイスの動作マージンを確認 ・メニューを細分化して低コスト、短納期で対応可能 |
![測定中イメージ写真1](https://www.tomo-ele.co.jp/ja/wp-content/uploads/2021/05/kensa02.jpg)
![測定中イメージ写真2](https://www.tomo-ele.co.jp/ja/wp-content/uploads/2021/05/kensa03.jpg)
![測定中エラー写真](https://www.tomo-ele.co.jp/ja/wp-content/uploads/2021/05/kensa04.jpg)
X線検査
X線装置を使った製品検査を実施しているほか、製品、電子部品などのX線検査、X線撮影も承っております。
![X線検査画像](https://www.tomo-ele.co.jp/ja/wp-content/uploads/2021/05/x_01.png)
![X線検査グラフ画像](https://www.tomo-ele.co.jp/ja/wp-content/uploads/2021/05/x_02.png)
![X線検査機器](https://www.tomo-ele.co.jp/ja/wp-content/uploads/2021/05/x01-1.jpg)
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